Cercador › Fundació Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia (ICN2)

SUMINISTRO, INSTALACIÓN Y PUESTA EN MARCHA DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN CON CORRECTORES DE ABERRACIONES (AC-(S)TEM) Y DE UN SISTEMA DE HAZ DE IONES FOCALIZADO (FIB), DIVIDIDO EN 2 LOTES, PARA EL INSTITUT CATALÀ DE NANOCIÈNCIA I NANOTECNOLOGIA (ICN2)

Formalitzacióexp. 2020-28 ICN2

Lote 1: o Caracterización estructural y química con resolución atómica de materiales mediante la corrección de aberraciones tanto en la lente condensadora en la sonda (cañón) como en la lente de objetivo (doble corrección). o Caracterización con resolución atómica en modo TEM, STEM, EDX e EELS. o Adquisición y reconstrucción mediante Tomografía electrónica de la morfología y composición 3D de las nanoestructuras o Obtención de espectros de pérdida energética de los electrones en condiciones de alta resolución energética y espacial. o Obtención de mapas de composición 2D y 3D mediante espectroscopía EDX. Lote 2: o Observación de muestras mediante el haz de iones y electrones con una alta resolución tanto espacial como energética del haz para poder visualizar detalles nanométricos. o Preparación de muestras/lamelas para (S)TEM de distintos materiales y nanoestructuras con alta precisión. Para cumplir este requisito, el equipo deberá tener un cañón de electrones de alta resolución para el posicionamiento y control del proceso, así como un cañón de iones que permita adelgazar las muestras en un alto rango de voltajes e intensidades, desde alto voltaje y alta intensidad para procesos de adelgazamiento rápidos y/o masivos, hasta bajo voltaje e intensidad para poder eliminar las zonas amorfizadas durante el ataque a altos voltajes y tener una calidad final de la lamela óptima. o Depósito controlado de Carbono (C) y Tungsteno (W). Se requerirán al menos dos inyectores (C y W) para poder realizar los recubrimientos protectores de las estructuras a adelgazar, así como para poder pegar estas a las rejillas (S)TEM. o El sistema debe permitir la preparación de lamelas para (S)TEM con una alta precisión, control, calidad final y un alto grado de automatización. o El sistema debe permitir la extracción de las lamelas y un posicionamiento preciso de éstas en las rejillas portamuestras (S)TEM mediante nanomanipulador.

Òrgan

Fundació Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia (ICN2)

Procediment

Obert · tramitació ordinària

Publicació

15 de gen. del 2021

Pressupost amb IVA

—

Valor estimat

4.068.000 €

Lloc d’execució

Barcelona

Durada

—

CPV

38510000-3 · Microscopios

Presentació

Sobre digital

Lots (2)